Tag: WCCA
1 pozycji oznaczonych tym tagiem.
- Analiza najgorszego przypadku i marginesy obwodów elektronicznych
Od requirement/QoI, granicy systemu i mission profile przez tolerancje produkcyjne, process/lot, temperaturę, starzenie, promieniowanie, line/load oraz pedigree danych i modeli do extreme-value, sensitivity, corners, interval, RSS i Monte Carlo z korelacją; dalej analizy DC, AC, noise, transient, timing, SI/PI, power, thermal i fault, derating, marginesy, guard bands, kalibracja i uncertainty; na końcu model verification/validation, korelacja pomiarowa, raport, change impact, qualification, production acceptance i surveillance.