Tag: metrologia

Mass properties jako kontrolowany zbiór zależny od konfiguracji: masa, środek masy, pełny tensor i osie główne; układy odniesienia, datum, transformacje i twierdzenie Steinera; WBS/MEL, CBE, growth allowance, margin, reserve i trend; stany misji, materiały zużywalne i mechanizmy; sprzężenie z aerodynamiką, GNC, aktuatorami, obciążeniami, strukturą oraz separacją; modele CAD/FE, GUM, kowariancja i Monte Carlo; ważenie, reaction methods, wahadła, spin balance, korelacja, acceptance, produkcja, naprawy i surveillance bez danych współczesnego uzbrojenia.

Od design authority, datums, GD&T, tolerance stack, mass properties i metrologii przez pedigree materiału, procesy specjalne, machining, spawanie, bonding, kompozyty, sandwich, powłoki i montaż po metody NDT, POD, first article, acceptance, MRB, traceability, FRACAS oraz surveillance.

Wyposażenie naziemne jako część systemu: od granic GSE, GSS i infrastruktury przez transport, podnoszenie, pozycjonowanie, zasilanie, media, magazynowanie i ładowanie danych do łańcucha ATE–ATS–TPS–UUT, spójności metrologicznej, ryzyka błędnej decyzji, diagnostyki, kwalifikacji, dokładnej konfiguracji użytej w teście, cyberbezpieczeństwa, starzenia i formalnego powrotu do służby.